uv-a型紫外辐照计采用smt贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
特点
* 光谱及角度特性经严格校正
* 数字液晶显示,带背光
* 手动/自动量程切换
* 数字输出接口(usb,冗余供电)
* 低电量提醒
* 自动延时关机
* 有数字保持
* 轻触按键操作,蜂鸣提示
主要技术指标
* 波长范围及峰值波长:(以下两种选其一)
(1)uv-420探头:λ:(375~475)nm;λp=420nm
(2)uv-365探头:λ:(320~400)nm;λp=365nm
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* 辐照度测量范围:
(0.1~199.9×103) μw/cm2
* 紫外带外区杂光:
uv420:小于0.02%
uv365:小于0.02%
* 相对示值误差:±10%(相对与nim标准)
* 角度响应特性:±5%(α ≤10°)
* 线性误差:±1%
* 换档误差:±1%
* 短期不稳定性:±1%(开机30min后)
* 疲劳特性:衰减量小于2%
* 零值误差:满量程的±1%
* 响应时间:1秒
* 使用环境: 温度(0~40)℃,湿度<85%rh
* 尺寸和重量:160mm×78mm×43mm;0.2kg
* 电源: 常规使用6f22型9v积层电池一只
亦可使用数据线连接usb接口、5v电源适配器供电
整机功耗 <0.1va
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